X 荧光光谱仪

X 荧光光谱仪EDX8000L 利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶

瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中 Na2O、MgO、Al2O3、CaO、

Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba 等化学

成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效同时，为了更好的利用 X 荧光分析仪器的无损测量特性，我公司根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。EDX8000L 型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn 等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe 等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。

二、产品配置清单

详细配置信息：

一、硬件：主机壹台，含下列主要部件：(1) X 光管 (2) SDD 电制冷半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高压系统(5) 高清晰摄像头 (6) 真空泵(7) 三维自由超大样品腔：（600×600×1000mm3）二、软件及其他：X 荧光光谱仪成分分析软件 V3.02.1 计算机、打印机各一台计算机（笔记本电脑）、打印机（彩色喷墨打印机）2.2 资料：仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。2.3 标准附件(1) 准直孔：包括Ф3.0mm、Ф6.0mm、Ф8.0mm 各一个，共 3 个；

三、技术参数

一.技术指标：

1.1 分析元素范围：Na-U1.2 测量精度：0.05%（含量大于 96%的样品）1.3 高压：5kV-50kV1.4 管流：50μA-1000μA1.5 能量分辨率：145±5eV1.6 测量时间：60s-300s1.7 计数率：1300-10000cps

二.工作环境要求：2.1 环境温度要求：15℃-30℃2.2 环境相对湿度：<70%